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    1. 系統介紹

      ST2500EX高性能數?;旌闲盘枩y試機

      ST2500EX是高性能數?;旌闲盘枩y試系統,支持1024數字通道配置。該系統硬件結構采用Direct Docking連接方式,可以兼容J Type針卡,降低客戶轉平臺治具成本。ST2500EX還具有靈活的可擴展性,可搭載無線綜測儀、RF測試模塊及各類高性價比解決方案

      ST2500EX高性能數?;旌闲盘枩y試機

      應用場景

      ST2500EX數?;旌闲盘枩y試系統可以廣泛應用于 SOC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、CIS、PMIC等半導體晶圓、器件測試和模塊系統級測試

      目標器件

      產品關鍵特性

      系統支持125MHz/250Mbps數據速率

      單機頭最高可配置32塊板卡,用戶可以根據測試需求靈活配置板卡

      可以兼容J Type針卡,降低客戶轉平臺治具成本

      提供配套公用loadboard,可以縮短客戶產品硬件開發周期

      系統采用Direct Docking連接方式,增加晶圓測試穩定性

      系統集成ST-IDE軟件提供用戶友好的開發環境,豐富的開發和調試工具 (AWG、DGT、Pattern、LA等),降低產品開發調試到量產交付生產周期

      配套豐富的pattern轉換工具,方便WGL、STIL、VCD等仿真文件轉換為測試機pattern,同時支持友商平臺pattern轉換,有效提高調試效率

      針對工廠量產提供專門GUI,數據實現顯示監控,提供豐富的數據記錄分析工具,支持定制化工廠系統連接方案,方便批量測試和對接工廠管理系統

      智能軟硬件監控系統,提供故障代碼,精確定位軟硬件故障位置

      系統配置

      根據測試資源要求,通過模塊擴展,可以滿足資源場景配置

      相關解決方案

      MCU/SoC測試方案

      All-in-one設計;模塊化設計;DIO雙指令集。

      存儲芯片測試方案

      邏輯、軟件特別優化;定制化Repair功能;模塊化設計。

      CIS/TOUCH/TOF測試方案

      圖像處理定制化;160Gbps分布式通信技術;專業SoC數字板卡

      Bluetooth/WiFi測試方案

      標準1U;超高的頻段范圍;支持多種協議;支持Sub-6GHz多域并測。

      LED Driver測試解決方案

      高性價比;資深專業團隊;定制靈活;完全自主知識產權。

      高速接口SLT測試方案

      整合通用DC、AC及高速測試;高性能算法加速技術;定制化算法。

      教育培訓方案

      根據多年測試產業積累,結合實訓人員的特殊性推出了標準化的集成電路測試工程培訓方案。

      內容詳情

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